晶 圓 檢測設備、電測機、探針卡公司在PTT/mobile01評價與討論，在ptt社群跟網路上大家這樣說
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晶圓 自動光學檢測設備 · 高解析度CCD結合多角度燈光模組，有效檢出缺陷 · 高端機構元件達到次微米需求高速檢測平臺 · 白光干涉儀& Confocal 達到精密量測 · 檢測項目: 異物、 ...
晶 圓 檢測設備在智能光學晶圓/晶片檢測設備 - 和全豐光電的討論與評價
針對半導體晶圓於製程中所產生的缺陷提供精準光學檢測分析。 → 利用自動對焦之顯微鏡模組搭配XYZ三軸位移平台（整合光學尺）進行飛拍，擷取晶圓／晶片表面影像。
晶 圓 檢測設備在晶圓檢測設備概念股有哪些股票 - 財報狗的討論與評價
台股和美股加總的晶圓檢測設備概念股共有10 間公司，包括艾司摩爾、應用材料、科磊、ONTO、NVMI...等。其他相關概念股還有半導體設備、半導體測試、平面顯示器、印刷電路板 ...
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晶 圓 檢測設備在AOI 自動光學檢測設備- 半導體產業- GPM 均豪精密的討論與評價
AOI 自動光學檢測設備. ○ 對應不同的製程，客製化調整檢測需求○ 人工智能-自動缺陷檢測和分類. 01晶圓外觀光學檢查機 02玻璃晶圓/外觀檢查機晶圓基片 03隱崩自動光學 ...
晶 圓 檢測設備在Camtek - 自動晶圓光學檢測(Wafer AOI) 系統 - teltec.asia的討論與評價
支持高翹曲度晶圓的檢測. • 低至2um 的RDL 檢測能力. 產品特點：. • 低至0.2μm 的表面缺陷檢測能力. • 多重放大倍率，適應不同檢測需求. • 可分區域，分別編程檢測.
晶 圓 檢測設備在半導體檢測/量測設備 - 達裕科技的討論與評價
全自動電性量測(阻值漏電流量測) · 全自動金屬膜厚量測機(4PP) · 全自動晶圓刻號偏移量測暨上下對位量檢測 · 全自動Microscope晶圓量測系統 · 全自動3D/2D量檢測設備 · 自動光學 ...
晶 圓 檢測設備在晶圓自動光學檢測機 - 晶彩科技的討論與評價
Line Scan高速檢測+ AI缺陷分類。 · 支援Silicon/Glass Wafer正背面外觀缺陷檢測。 · 可應用於CIS/IQC/OQC。 · 可搭載8”/12” EFEM，支援SECS GEM200/300。
晶 圓 檢測設備在半導體晶圓用AOI檢查機(客製化) - 伯堅股份有限公司的討論與評價
ITOCHU半導體晶圓用AOI檢查機是目前業界最強的巨觀圖像缺陷檢出能力，為日本獨家專利之設計，具有高速檢出且穩定之特性，另可依客戶需求進行裝置客製化設計。
晶 圓 檢測設備在晶圓檢查設備- 杰楓科技有限公司的討論與評價
產品介紹 ·. 8吋與12吋共用平台 ·. Mapping資料比對 ·. 快速點檢數量與位置 ·. 即時顯示晶粒檢測結果功能 ·. 搭配多種光學系做不同產品檢測 ·. 客製化的報表產出並可配合 ...
晶 圓 檢測設備在晶圓光學檢測機 - 峻鈺科技股份有限公司的討論與評價
晶圓 光學檢測機 · 機器尺寸(Machine size) : L/1312mm * W/805mm * H/1520mm · 主機配備(Equipped with a host) :工業級電腦PC Based i5以上,17”Monitor · 影像解析度(Image ...